Wir wurden ausgezeichnet

Folien, Flachglas, Computer-Festplatten, Displays oder Halbleiterwafer müssen mit enormer Genauigkeit gefertigt werden. Die Anforderungen an die Abstands- und Dickenmessung sind dabei sehr hoch. Optische Interferometrie mit SDL bietet eine Lösung – auch für den Nanometer-Bereich.

Eine kürzlich veröffentlichte Studie des Unternehmens Wind-River zeigt, dass sich Geschäftsmodelle auf Basis Intelligenter Systeme in Zukunft durchsetzen werden. Zudem wurden Schlüsselmerkmale ermittelt, die für den Erfolg von intelligenten Systemen ausschlaggebend sind.