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Wie Weißlicht-Interferometer auch im Nanometer-Bereich präzise messen

Folien, Flachglas, Computer-Festplatten, Displays oder Halbleiterwafer müssen mit enormer Genauigkeit gefertigt werden. Die Anforderungen an die Abstands- und Dickenmessung sind dabei sehr hoch. Optische Interferometrie mit SDL bietet eine Lösung – auch für den Nanometer-Bereich.
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Intelligente Systeme erfolgreich in Geschäftsmodellen einsetzen

Eine kürzlich veröffentlichte Studie des Unternehmens Wind-River zeigt, dass sich Geschäftsmodelle auf Basis Intelligenter Systeme in Zukunft durchsetzen werden. Zudem wurden Schlüsselmerkmale ermittelt, die für den Erfolg von intelligenten Systemen ausschlaggebend sind.